ЛИТЕРАТУРА ПО ФУНДАМЕНТАЛЬНЫМ И ПРИКЛАДНЫМ НАУКАМ
|
Авторизация
|
|||||||||||
КнигиИнженерные основы измерений нанометровой точности,пер. с англ Учебное пособие
1760 руб.
Оставить заявку
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей. |
В корзине нет товаров
Новости
2024-10-29
МАГАЗИН В МФТИ БУДЕТ РАБОТАТЬ В ВОСКРЕСЕНЬЕ 3 ноября 2024 г. с 9.00 до 18.00. 4 ноября — выходной!
2021-08-09
Уважаемые покупатели! В связи с отпускным периодом с 18.07.2024 по 12.08.2024, сроки выполнения заказов могут быть увеличены. Приносим свои извинения.
0000-00-00
30-го декабря — с 8:30 до 17:00
31-го декабря 1, 2 ,3, 7 и 8-го января 2023 г. магазин не работает
4, 5 и 6-го января 2023 г. — с 10:00 до 17:30
Лидеры продаж
|
|||||||||||
© ООО «Научная книга», 2021 |